ВСЕГЕИ
+7 (812) 321 5706 vsegei@vsegei.ru
Всероссийский научно-исследовательский геологический институт им. А.П. Карпинского
Публикации
Справочники-определители, словари
Геологический словарь
М
Метод отраженных волн (МОВ)

Метод отраженных волн (МОВ)




Метод отраженных волн (МОВ)




[reflection method] – ведущий метод сейсмич. исследований зем. коры, применяемый на суше и на море. Основан на одновременной регистрации множества отраженных волн, возникающих на границах раздела г. п. с различной акустической жесткостью. Основной объем применения МОВ относится к нефтегазоносным провинциям при исследовании толщ осад. г п., содержащих протяженные сейсмич. отражающие границы и локальные неоднородности. По детальности исследований МОВ выделяются: маршрутные пересечения бассейнов, системы профильных наблюдений (2D) и локальные площадные (трехмерные) системы (3D). На рубеже 60–70-х гг. ХХ в. появились многократные системы наблюдений, послужившие основой для разработки новой модификации МОВ, включающей метод общей глубинной точки. Суть ее заключается в выполнении одной из многих процедур, направленных на селекцию полез. сигналов и визуализацию среды в виде временных и глубинных разрезов. МОВ характеризуется высокой разрешающей способностью по горизонтали и по вертикали, позволяющей порознь изучать структуру и свойства близкорасположенных отражающих объектов. Основные проблемы МОВ связаны со сложным строением верхней части разреза и с наличием фона волн-помех, для ослабления которых применяются разл. способы фильтрации сейсмических сигналов по частоте и скоростям. Обработка и интерпретация данных МОВ автоматизированы и содержат большое число процедур: ввод и коррекция кинематических и статических сейсмических поправок, амплитудная коррекция, частотные и пространственно-временные фильтрации, суммирование по сред. точкам, миграционные алгоритмы, направленные на неискаженную визуализацию среды, разл. методы обработки сейсмич. данных и т. д.





Если вы заметили ошибку - напишите, пожалуйста, об этом в комментариях.

Яндекс.Метрика