RUSSIAN         ENGLISH    
         
ГлавнаяКонтактыВакансииКарта сайтаСсылки






 

Сканирующий Электронный Микроскоп CamScan MX2500S с рентгеновским микроанализатором и катодолюминесцентным детектором

Цифровой сканирующий электронный микроскоп CamScan MX 2500S (CamScan Electron Optics, Ltd, UK) (СЭМ) предназначен для наблюдения микрообъектов при увеличениях от 8х до 500’000х, исследования их топографии (морфологических элементов поверхности), фазовой неоднородности и позиционирования электронного пучка для последующих рентгеновских и катодолюминесцентных измерений. Детектор вторичных электронов (SE) Эверхарта-Торнли предназначен для регистрации низко энергетических вторичных электронов, формирующих топографическое изображение (с разрешительной способностью <3 nm при 30 kV ускоряющего напряжения). Детектор обратнорассеянных электронов (BSE) позволяет выявить фазовую неоднородность объекта.

Для проведения электронно-зондового микроанализа СЭМ оборудован системой INCA Energy 200 c энергодисперсионным спектрометром фирмы Oxford Instruments, позволяющей определять химический состав объекта в широком элементном диапазоне (от B до U). Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия используются для решения широкого спектра задач:

  • качественная диагностика и определение химического состава породообразующих и акцессорных минералов (от 3 мкм);

  • определение распределения элементов (профилирование вдоль выбранной линии или сканирование по площади с получением картин распределения заданных химических элементов);

  • исследования поверхностей (микропалеонтология, трещиноватость горных пород и минералов, пористость (нефтяные коллектора), генетическая минералогия и петрология (взаимоотношения минеральных фаз), топоморфлогия кристаллов и т. д.);

  • анализ изменения концентраций компонентов вблизи границы раздела между фазами (геохимические и термодинамические задачи);

  • система анализа изображения (в режиме обратно рассеянных электронов) позволяет проводить экспресс-диагностику компонентного состава анализируемого объекта, например состав горной породы в объемных процентах слагающих ее минералов.


Входящий в комплект СЭМ катодолюминесцентный детектор CLI/QUA 2 существенно расширяет возможности электронной микроскопии. Основной причиной катодолюминесценции в минералах является присутствие в кристаллической решетке микропримесей редкоземельных элементов (Sm3+, Dy3+, Th3+, Tb3+, Eu2+, Eu3+) и Mn2+.

В случае неравномерного вхождения микропримесей в процессе кристаллизации минералов, даже тончайшие зоны роста кристаллов будут иметь разные характеристики катодолюминесцентного спектра, что делает эти зоны визуально различимыми и позволяет выявлять внутреннюю морфологию кристаллов и эволюцию ростовых форм (рис.: Катодолюминесцентное изображение тонкой зональности кристалла циркона).

С помощью детектора качественно определяется какими именно микропримесями обусловлена катодолюминесценция в той или иной зоне кристалла. Явление католюминесценции возникает в минералах, не содержащих главных окислов (FeO, MgO и т. д.) в главенствующих позициях, т. к. они являются гасителями такого вида люминесценции. Главными объектами катодолюминесцентного изучения являются алмазы, цирконы, флюориты, апатиты, карбонаты, полевые шпаты и бариты.

При решении изотопно-геохимических и геохронологических задач растровая электронная микроскопия и катодолюминесценция играют важнейшую роль на этапе предварительного минералогического изучения вещества. Эти методы позволяют окончательно определиться в выборе наиболее корректного и эффективного метода изотопного анализа, а также выделить подходящие для исследований участки образца.

 



 
тел. (812) 321-5706, e-mail: vsegei@vsegei.ru

Яндекс.Метрика