поиск  
     
      Новости      
      Структура      
      Информационные ресурсы      
      Конференции      
      Ссылки      
      О ВСЕГЕИ      
ENGLISH   |    RUSSIAN    |   
      Лабораторно-аналитическая служба
  • Центр Изотопных Исследований
    Общая информация
    Направления
    Аналитические возможности
    Delta plus
    Micromass NG-5400
    Element2
    Neptune
    Triton
    SHRIMP II
    Пробы
    Галерея
    Ссылки
    Исследования
    CamScan MX2500S
    Лазер DUV 193
    Quantulus
    МИ-1201
    Контактная информация
    Персонал
    Ссылки
    Цены
    SHRIMP workshop 2008
  • Центральная лаборатория
          Подразделения региональной геологии и геологического картирования
          Подразделения общей (региональной) и специальной металлогении и месторождений твердых полезных ископаемых
          Подразделения геологии месторождений горючих полезных ископаемых (топливно-энергетического сырья)
          Подразделения информационного, методического и технологического обеспечения
          Научно-вспомогательные и образовательные подразделения
          Ученый совет
          Диссертационные советы
          Совет молодых ученых и специалистов
          Гостиница
          Научно-редакционный совет Роснедра
          Межведомственный стратиграфический комитет
          Главная редколлегия


    [Исследования]   [Пробы]   [Галерея]   [Ссылки]


    SHRIMP II

     ShrimpII


     

    Описание прибора

    Shrimp II (Sensitive High Resolution Ion Micro Probe II) является прецизионным вторично-ионным микрозондом высокого разрешения.

    В приборе применяется in situ-ионизация вещества пробы, посредством бомбардировки ее поверхности ионами кислорода или цезия, сфокусированными системой Колера в пучок диаметром 5-25 микрон. Ионизация приповерхностного слоя образца позволяет получить положительные или отрицательные ионы в количестве, достаточном для изотопного или элементного анализа. Такой подход  освобождает от сложных, длительных и потенциально опасных аспектов пробоподготовки, присущих традиционной масс-спектрометрии. Высокое масс-разрешение прибора достигается использованием двойной фокусировки (одновременно по энергиям и массам) и очень большим радиусом поворота магнита а также  электростатического анализатора.
     

    Принцип работы прибора следующий. Пучок ионов с энергией 10kV (О-) фокусируетя на небольшую область (<30 мкм диаметром) поверхности мишени. Ионная бомбардировка выбивает атомы и молекулы из мишени, частично ионизуя их. Эти вторичные ионы собираются посредством электростатических линз и направляются в масс-спектрометр, в котором они разделяются по массам.

                Обычно, в спектре вторичных ионов сложных соединений изобары имеют отличие по массам <3 x 10-4. Высокое масс-разрешение прибора достигается использованием двойной фокусировки (одновременно по энергиям и массам) и очень большим радиусом поворота у магнита (радиус магнита , радиус электростатического анализатора 1.27м). В итоге прибор весит порядка 12 тонн и имеет длину ионного пучка более 7 метров.

                SHRIMP-II имеет самую высокую чувствительность и разрешающую способность среди всех существующих микрозондов. А имеющийся в ЦИИ, является к тому же первым из семейства SHRIMP микрозондом с мультиколлектором. Это существенно повышает его точность измерений и производительность.

    Применение

    SHRIMP-II имеет большую область применения. Основной является уран-свинцовое датирование по цирконам. В число других возможных применений входит:

  •    Уран-свинцовое датирование по монацитам

  •    Локальный анализ стабильных изотопов (O, S, N) в минералах

  •    Локальный элементный редкоземельный анализ в минералах

     

    Типичные научные задачи, решаемые с помощью SHRIMP-II:

  •    Исследование нуклеосинтеза в звездах

  •    Уточнение возрастных границ палеозоя

  •    Датирование древнейшей Земной коры 

  •    Определение содержания следовых элементов во включениях алмазов

  •    Исследование изотопных отношений Ti в метеоритах

  •    Материаловедение

  •    Физика поверхности твердых тел



    [Исследования]   [Пробы]   [Галерея]   [Ссылки]




  •     ©2004.ВСЕГЕИ email:vsegei@vsegei.ru     Разработано на технологии SiTex